Разработка системы оценки параметров чистых помещений для производства микроэлектроники
Проблема проекта
Оценка чистых помещений часто фрагментарна: параметры снимаются разрозненно, результаты сложно сопоставлять между собои и во времени, а отклонения выявляются поздно. Из-за этого растут риски брака, простоев и неуправляемых отклонении процессов
Цель проекта
Повышение объективности, воспроизводимости результатов по классу чистоты и ключевым факторам среды и контроль их в динамике путем создания системы оценки параметров чистых помещений для производства микроэлектроники
Требуемые направления
-
Электроника и наноэлектроника (всего мест: 4; осталось мест: 0)
-
Любое направление (всего мест: 4; осталось мест: 4)