Проблема проекта

Дефекты, появляющиеся на кристалле во время технологических процессов изготовления, приводят к сбоям в его работе. В настоящее время выявление дефектов ведется вручную под микроскопом, что занимает много времени, напряжения сотрудников и не исключает возможности пропуска дефектов. Автоматизация процесса контроля кристалла на дефекты сможет решить указанную проблему. Для этого и необходима разработка программного обеспечения для автоматизированной обработки изображений кристаллов, полученных с микроскопа.

Цель проекта

Повышение надежности дефектоскопии через разработку программного обеспечения на основе искусственного интеллекта для дефектоскопии монолитных интегральных схем (далее МИС), контроля качества выпускаемой продукции

Требуемые направления

• Радиотехника (магистратура) (всего мест: 5; осталось мест: 4)

Вакансии

• Исполнитель (4 места)