Проблема проекта

Привнесенные дефекты – это дефекты, появившиеся на кристалле во время всех технологических процессов, приводящие к несовершенству внешнего вида. К примерам таких дефектов относится смаз металлизации, следы механического воздействия (царапины), растрав, следы закреплённых частиц (грязь, пыль). Данные дефекты приводят не только к несовершенству внешнего вида, но и к сбоям в работе кристалла. Подобный брак заметен под микроскопом, но учитывая, что на одной кремниевой пластине может находиться до 900 приборов, распознавание дефектов вручную, может быть достаточно длительным. ПО с использованием нейронных сетей позволяет автоматизировать данный технологический процесс, тем самым увеличив общий объем производства.

Цель проекта

Разработка программного обеспечения (ПО) для автоматизации процесса проверки кристаллов монолитных интегральных схем (МИС) на наличие дефектов

Требуемые направления

• Радиотехника (магистратура) (всего мест: 7; осталось мест: 7)